设计者使用传统的直接测试和其它验证技术能够增加用固件作激励源的情况。内存分区可用于过滤仿真过程中不必要的总线周期，从而提高性能。本文将介绍一个设计实例，使用作为激励的代码和基于断言的验证，通过该实例来描述使用传统验证技术无法发现的设计错误。

　　解决验证挑战

　　目前，电子工程师面临的验证挑战不断加剧。为了更好地阐明这些挑战，本文中介绍了一个简单的实例。该实例是一个在250×250像素矩阵上显示RGB数值的图形输出设备。它包括一个映射到处理器的寄存器接口。相关寄存器有：“行”—包含待描绘像素行地址信息的一个8位寄存器：“列”—包含待描绘像素列地址信息的一个8位寄存器：“像素”：——包含待描绘像素RGB值的一个8位寄存器：“大小”——包含待描绘像素矩形大小的一个8位寄存器（其中1表示写入单个像素，2表示描绘一个2×2的正方形，以此类推最大值为16）：“状态”——能够读取和返回设备状态信息的一个8位寄存器。

　　使用直接测试

　　验证此样本设备的第一步是测试所有行和列是否正确定址。要测试所有大小的像素是否能够被写入，还要测试不同颜色值的代表样点。典型的像素组合也要被测试，如从右上方像素立刻变换为左下方像素。使用类似的方法可测试所有角对组合。还应该测试各种组合中有序和无序增减的行地址和列地址。所有这些测试可以通过编写和编译一个运行在全功能处理器模型上的简单程序来完成，或者使用一个产生总线周期和BFM的简单测试平台。另外还要考虑测试那些可能影响设计的异常条件。测试时可将行地址或列地址设置为一个大于249的值，或是定义一个大小超过硬件支持的像素。大电流电感

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